为了应对半导体制造商对能够以非破坏性方式在晶片或器件内成像的仪器的需求，WDI设计和制造了自动化红外激光共聚焦显微镜（IRLC）。IRLC允许硅晶片和器件的地下和内部检查，允许以亚微米分辨率对内部结构进行成像。

产品特点：

近红外激光和红外光学耦合共聚焦扫描技术，非常适用于硅片，IC芯片，MEMS，太阳能电池板及其他器件的非破坏性地下内部研究。

完整的自动化包，包括电动XY平台，物镜转盘，照明，对焦和Z位置以及激光衰减。

强大但直观的软件，旨在提高检查和审查流程的有效性和效率。

可选的自动化和配方软件，允许系统在单个设备或完整晶片和/或IC条和托盘包装上执行完全自动化的检测程序。

DOBOTECH 传感器 35BS

NORBRO 主起动阀的修理包 35-ARK40-0 size 35 series40

VECTOR VM1000刻印机电磁阀 35A-AEB-DDFJ-1KG

BOURNS 电位计 3590-S2-501

FISHER 电气阀门定位器 35821

PCB 三向加速度传感器 356A16

AIRSCREW 风机 355-CC1-422

VIDEOJET 偏心螺丝（垂直调节 355246

BROADY 安全阀 3551H-CN-000

HIOKI 蓄电池检测仪 3551

EPSILON 电子引申计 3542

PCB 加速度传感器 353B31带标准电缆