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IRD磁芯损耗测试仪2125
2017-02-23 14:25  浏览:8
价格:未填
品牌:IRD
发货:3天内
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 IRD磁芯损耗测试仪2125 
该LEXSECO ?酷睿损耗测试仪利用高分辨率通量提供高精确度,波形无关的读数,被检查电流和功率测量的核心设备。 
核心损耗测试仪包括具有固态控制的可变电抗变压器(VRT),数字计量包,计算机系统和带快速连接配件的测试电缆。提供安全保险丝,过温保护,联锁,浪涌抑制器和断路器,以向硬件和操作员提供最大的保护。 
磁芯损耗测试仪为某些型号提供0至2,000安培的可调输出电流,对其他型号提供高达4,000安培的可调输出电流。通过LEXSECO使用的VRT ?提供了方便的控制和自我限制的电流,这两者提供比行业中使用动力其它来源的巨大优势。您LEXSECO ?酷睿损耗测试仪的设计与LEXSECO使用? MP 7 TM软件。这种高度精细的软件和硬件组合将确保准确的结果。 
 
标准功能: 
所有型号 
MP软件和计量系统 
助焊剂测量电缆 
电缆支架 
锁钢盖 
型号2125及以上 
交流转子和直流电枢测试包。 
可选功能: 
模型1081,2025,2040,2060 
扩展输入电压范围,220-600V 
型号2125,2200,3000 
扩展输入电压范围480-600V 
型号2060及以下 
交流转子和直流电枢测试包。
联系方式
公司:上海兆茗电子科技有限公司
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